形状测量激光显微系统 VK-X3000系列
搭载白光干涉功能 ，纳米/微米/毫米一台即可完成测量
超越激光显微镜的限制，以三重扫描方式应对
一台即可测量纳米/ 微米/ 毫米
一台即可了解希望获取的信息
纳米级分辨率
产品特性
采用了三重扫描方式，运用激光共聚焦、白光干涉、聚焦变化等三种不同的扫描原理，高倍率和低倍率，平面、凹凸表面的细微粗糙度，
以及镜面体，透明体等。VK拥有应对多种样品的测量能力（从 1 nm 到 50 mm），纳米/微米/毫米一台完成测量。
1、Basic Characteristics
观察
从光学显微镜到SEM领域一台设备涵盖
42 至 28800 倍
无需对焦
适用于多种样品
测量
非接触瞬间扫描形状
不会损伤目标物
纳米级别也可准确测量
透明体和坡度大的目标物也可测量
https://www.chem17.com/st525722/erlist_2356012.html
https://www.chem17.com/st525722/product_36939592.html 三维立体显微镜
三维立体显微镜