PCTS-3000E中低温偏置电场下热释电测试系统采用直接测量法，在热释电材料两端施加直流偏场的条件下，测量热释电材料在均匀升温过程中释放出来的热释电电流，计算得到场致热释电系数，适用于各种热释电薄膜、厚膜、单晶、陶瓷材料等的测试。
热释电系数测试主要性能指标：
a.测量范围：0.1pA～1μA
b.测量精度：10fA
c.样品类型：单晶、块体、膜
d.大样品厚度：10mm
e.大样品尺寸：Φ30mm
f.样品形状：不限
g.直流偏场：0～5000V可调
h.高压击穿保护：有
i.温度范围：-160℃～260℃
j.控温精度：±0.1℃
k.升降温速率：1～10℃/min
l.具有控温故障诊断监控、超温自动断电保护功能
本测试系统由主控器、高压电源、高低温测试箱（配热释电测试夹具）、计算机及系统软件部分组成。主控器实现高压信号发生器、收集热释电电流、与PC通讯等功能，系统软件包括可视化数据采集和管理功能，测试时，按要求安装样片后，一键启动热释电系数测量，测量过程曲线和测试结果自动保存。
偏置电场下热释电测试
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