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品牌 DPO7254C
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更新 2021-07-30 10:06
 
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出售DPO7254C 出售DPO7254C 示波器  

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数字荧光示波器 品牌 Tektronix/泰克 型号 DPO7254C 
通道数 4 带宽 2.5 GHz(MHz)  采样率 40/20/10 GS/s(GS/s)  
记录长度 50/25/12.5 M(k)  波形捕获率 250,000(wfms/s)  外形尺寸 12.1 英寸(mm)  
重量 详见参数(kg)  加工定制 否  
   
DPO7254C 2.5 GHz, 10/20/40 GS/s (4/2/1通道), 12.5M记录长度, 4 通道数字荧光示波器 

所有型号均包括:每条模拟通道一只无源电压探头(P6139B:500 MHz, 10X, 8 pF), 附件袋, 前面保护罩, 鼠标, 快速入门用户手册, DPO7000C系列产品软件介质和说明书(包括性能检验和程序员手册), NI LabVIEW SignalExpressTM泰克版软件, 可溯源国家计量学会、Z540-1标准和ISO9001的校准证明, 电源线, 一年保修。

   

   
泰克深知,从原型通电到生产测试,工程师在整个设计周期都要依赖示波器。 DPO7000 系列示波器的独特功能与杰出的信号采集性能和分析功能相结合,让您加速完成测量任务。

主要性能指标
?3.5 GHz、2.5 GHz、1 GHz、500 MHz 多种带宽型号
?在一条通道上提供了高达 40 GS/s 的实时采样率,在两条通道上提供了 20GS/s 的实时采样率,在三或四条通道上提供了 10 GS/s 的实时采样率

?MultiView Zoom? 技术,高达 500 M 点的记录长度
?FastAcq? 技术,>250,000 wfms/s 的好大波形捕获速率
?Fastframe? 分段存储采集模式,>310,000 波形/秒捕获速率

?用户可以选择带宽限制滤波器,提高低频测量精度

主要特点
?易用特点

?Pinpoint? 触发技术,提供了好灵活、性能好高的触发功能,支持 1400 多种组合,满足几乎任何触发情况

?可视触发和搜索,精确限定触发,找到复杂波形中的独特事件

?高级搜索和标记,在整个波形中查找具体事件

?MyScope? 定制窗口和鼠标右键菜单,实现杰出的效率

?53 种自动测量、波形直方图和 FFT 分析,简化波形分析工作

?TekVPI? 探头接口,支持有源探头、差分探头和电流探头,自动设定量程和单位

?12.1 英寸(307 毫米)高亮度 XGA 显示器,带触摸屏
?选配串行触发和分析

?I2C、SPI、CAN、LIN、FlexRay、RS-232/422/485/UART、MIL-STD-1553 和 USB 2.0 自动串行触发、解码和搜索选项

?MIPI? D-PHY DSI-1、CSI-2、8b/10b、以太网和 PCI Express 自动串行分析选项

?串行数据流时钟恢复
?64 位 NRZ 串行码型触发,隔离码型相关效应,速率高达 1.25 Gb/s

?选配特定技术分析功能

?多种软件解决方案内置专业知识,实现 MIPI? D-PHY、以太网、MOST 和 USB 2.0一致性测试、抖动分析、定时分析、眼图分析、功率分析、DDR 存储总线分析及宽带 RF 测试

?极限和模板测试,迅速了解信号特点
连接能力
?前面板和侧面板提供了 USB 主控端口,迅速简便地存储数据、进行打印及连接 USB 外设

?集成 10/100/1000base-T 以太网端口,实现联网能力;视频输出端口,把示波器显示画面导出到监视器或投影仪上

?Microsoft? Windows 7 64 位操作系统,简便连接及集成到用户环境

?满足 LXI Class C 标准
简化复杂的数字设计分析
通过 DPO7000C 数字荧光示波器,您可以使用一台仪器分析模拟总线信号和数字总线信号,迅速找到和诊断复杂电路中的问题。 由于高达 3.5 GHz 的带宽及高达 40 GS/s 的采样率,您可以获得必要的性能,查看快速变化的信号细节。 DPO7000C 系列所有通道标配高达 25 M 点的深记录长度,在一条通道上可以选配高达 500M 点的记录长度,可以捕获长时间信号,同时保持精细的定时分辨率。

高级搜索和标记及 MultiView Zoom? 功能可以迅速查看波形,用户可以选配 15 种软件和常用技术分析软件包,完成深入分析任务。由于这些特点,泰克 DPO7000C 系列为您简化和加快复杂电路的调试工作提供了所需的多功能工具。

完善的功能,加快每一个调试阶段
从迅速发现和捕获异常事件,到搜索波形记录找到事件及分析事件特点和被测器件特征,DPO7000C 系列提供了一套强大的功能,加快了每一个电路调试阶段。

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