HIOKI日置IM3570阻抗分析仪
电阻计RM3542、RM3542A、RM3543、RM3544
RM3545、RM3548、3541
LCR测试仪 IM3523、IM3533、IM3536 老款3532-50
LCR测试仪 3511-50、3504-40、3504-50、L2001
阻抗分析仪IM3570、IM3570、IM3590、IM7580A、IM7581、IM7583
、IM7585、IM7587
电极电阻测试系统RM2610、RM2610
扫描模块机架SW1001、SW1002
电池测试仪 BT3554-50、 BT3561A、BT3562A BT3563A
老款电池测试仪BT3561、BT3562、BT3563、BT3564
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下*快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
● 基本精度±0.08%的*精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
● 可以用于无线充电评价系统TS2400
主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。
HIOKI日置IM3570阻kang分析仪基本参数：
测量模式LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量
测量参数Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q
测量量程100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定）
显示范围Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示juedui值
θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）
Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）
基本精度Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°
测量频率4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进）
测量信号电平V模式，CV模式（普通模式）
50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下）
10mV~1Vrms，1mVrms步进（1.0001MHz以上）
CC模式（普通模式）
10μA~50mA rms，10μA rms步进（1MHz以下）
10μA~10mA rms，10μA rms步进（1.0001MHz以上）
输出阻kang普通模式：100Ω，低阻**精度模式：10Ω
显示彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF
测量时间0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF，代表值）
测量速度FAST/MED/SLOW/SLOW2
其他功能DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能
接口EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通讯，U盘，LAN
电源AC90~264V，50/60Hz，好大150VA
打印拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446）
接口GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准)
电源AC90~264V，50/60Hz，好大150VA
体积和重量330W×119H×307Dmm，5.8kg
附件电源线×1，使用说明书×1，通讯手册×1
