蓝宝石定向仪

 
 
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品牌 合能阳光
过期 长期有效
更新 2020-09-21 12:04
 
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北京合能阳光新能源技术有限公司

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  • 北京
  • 上次登录 2022-10-19
  • 肖兰 (先生)  
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HS-JF-Z2蓝宝石定向仪,是我公司基于市场目前缺乏对晶体生长切割后,需要对晶圆进行晶向指数分析,晶体长势分析,晶体缺陷分析等一系列有益于晶体更完好的呈现,它利用布拉格衍射方程2dHKLsinθn=nλ的基本原理,晶体学,现代自动化技术,计算机软件技术等相关领域的技术,帮助各大晶体研究类科研院所,结晶与矿物材料类物理研究院校,国内大型长晶企业,对晶体的原子层面分析从抽象化分析,相对有了更具象的概念定义。                                                                            

设备基本原理:晶体衍射X射线,其衍射方向是与晶体的周期性(d)有关的。一个衍射总可找到一个晶面族HKL,使它与入射线在此面族上符合反射关系,就以此面族的符号HKL作为此衍射之指数;量测出晶体的实际晶面取向夹角,分析出晶向指数,绘制出相应角度与接收到衍射线的强度的关系,从而帮助分析出原子在晶胞中的分布状况。   

                                                                                                                  HS-FZ-Z2蓝宝石定向仪具备如下特点:                                                                                                        1.已知,未知角度单晶的多点原子点阵面自动定向与分析;                                                                                         2.多点回摆曲线量测,方便晶体长势分析;                                                                                                  3.同衍射强度多点扫描,方便晶体缺陷,位错,翘曲位置判断分析;                                                                                                           4.多点数据采样;                                                                                                           5.图表绘制与表达,方便分析出加工后晶体的晶面取向;                                                                                                                                        6.衍射能力弱,晶面指数高的晶向检测;                                                                                                                7.具有全集成智能化微机分析处理,操作简单便捷;                                                                                                  8.水冷器X-RAY*,10-50KV电源可调,2-40MA可调。光源稳定可靠;                                                                             9.θ,2θ连续动作,单独动作,扫描范围宽,自动寻峰扫描;                                                                                                       10..精度高,步进角度好小1″,重复.精度±1″                                                                                                   11.晶体重复测量度±15″;     

                           

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