HIOKI日置IM3536 HIOKI日置 IM3536 LCR测试仪
阻抗分析仪IM3570、IM3570、IM3590、IM7580A、IM7581、IM7583
、IM7585、IM7587
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电极电阻测试系统RM2610、RM2610
扫描模块机架SW1001、SW1002
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HIOKI这次发售了LCR测试仪IM3536。IM3536具备4Hz~8MHz宽频率范围,实现高速、高精度测量。满足电子元件的研发和生产等多种领域的要求。
LCR测试仪IM3536的特点
测量频率4Hz~8MHz,精度保证范围1mΩ和测量范围扩大
以往产品(3532-50)的测量带宽为42Hz~5Mhz,而IM3536的带宽扩大到了4Hz~8MHz。因此,可以测量用于各种领域中的电子元件的特性。特别是,*高频率8MHz适用于高频化的电源用电感的测量。
而且,精度保证范围比起以往产品10mΩ以上,IM3536的精度保证为1mΩ以上,因此也适用于有低频化要求的电容等的测量。
和以往产品相比,实现高速、高精度测量
IM3536和以往产品相比改善了测量时间和基本精度。
比起以往产品的测量时间为5ms(0.005秒),IM3536是1ms(0.001秒),测量速度提高了4倍。因此,用于电子元件的产线中时,有助于提高产量。
而且,相对于以往产品的基本精度(代表值)0.08%,IM3536为0.05%,因此适用于有高精度要求的电子元件。
连续测量功能,1台即可完成不同条件的检查
在电子元件的评估中,有时会需要对1个电子元件需要按照不同条件和项目来测量。以往产品因为测量条件的切换时间和测量时间较慢,所以这类多种条件检查会需要多台测量仪器。
IM3536的测量条件的切换和测量实现了高速化,而且IM3536具备连续测量功能(不同测量项目连续测量的功能),因此1台IM3536就可以完成以前多台测量仪器才能完成的测量。 这样可以简化产线中所用自动检查机的结构,从而实现底价化。
具备提高检查品质的接触检查功能
检查时,发生测试探头的断线、和被测物的接触不良时,可能存在测量误差变大等影响测量值*确性的现象。为了防止此类事情,标配了能够知道测试探头断线和接触不良的接触检查功能。由此有助于提高检查的品质。