回收日置HIOKILCR测试仪 IM3533

1 测试电压（=外加在测试样品上的电压）是使用输出电阻和测试样品将开路端子电压分压后的电压。

*1 测试电压（=外加在测试样品上的电压）能够通过开路端子电压、输出电阻和测试样品的阻抗进行计算。

*2 可省略外加直流偏压。

低阻抗高精度模式：

低阻抗高精度模式下输出电阻下降、测试电流增加，而重复测量精度提高。若测量超过100μF这类大电容（低阻抗）的电容，就能够更加稳定的进行测量。下图是使用IM3570，分别在低阻抗高精度模式ON/OFF下比较重复精度的结果。（100kHz、1Ω量程、1V）

低阻抗高精度模式有效的条件根据机型而异。

重复测量约100mΩ的电阻

测试仪器的介绍：

针对生产线

型号测量频率产品特点

IM3523 DC，40Hz~200kHz 测量时间2ms、高性价比

IM3533 DC，1mHz~200kHz 内部直流偏压功能、触摸屏

针对研发、验货

型号测量频率产品特点

IM3570 DC，4Hz~5MHz 分析模式下扫频功能

IM9000 IM3570选件：等效电路分析软件

IM3590 DC，1mHz~200kHz 使用等效电路分析功能可分开测量ESR和ESL

日本日置HIOKILCR测试仪 IM3533

关于等效串联电阻（ESR）和损耗系数D（tanδ）

电解电容器的普通等效电路如下图所示。

这里低频（50Hz～1kHz）的话则基于等效串联电感L的电抗（XL）非常之小，可以看做0，这时的各元件的电阻成分、电抗成分在复平面中变为下图所示的矢量关系。

电容器的理想状态是R=0、损耗系数D=0，但是实际上电解电容器的话，存在电极箔的电阻、电解质的电阻、引线的电阻以及各部分的连接电阻等各种电阻成分，因此等效串联电阻ESR或损耗系数D（tanδ）是评价电解电容器好坏的指标。

使用IM3533或IM3536可以同时测量并显示4种参数，因此如显示范例可作为电解电容器的评价标准，同时确认电抗X、静电容量C、等效串联电阻Rs、损耗系数D。