电容器失效模式与机理
电容器的常见失效模式有：击穿短路；致命失效开路；致命失效电参数变化（包括电容量超差、损耗角正切值增大、绝缘性能下降或漏电流上升等）；部分功能失效漏液；部分功能失效引线腐蚀或断裂；致命失效绝缘子破裂；致命失效绝缘子表面飞弧；部分功能失效，引起电容器失效的原因是多种多样的。各类电容器的材料、结构、制造工艺、性能和使用环境各不相同，失效机理也各不一样。
引起电容器击穿的主要失效机理①电介质材料有疵点或缺陷，或含有导电杂质或导电粒子；②电介质的电老化与热老化；③电介质内部的电化学反应；④银离子迁移；⑤电介质在电容器制造过程中受到机械损伤；⑥电介质分子结构改变；⑦在高湿度或低气压环境中极间飞弧；⑧在机械应力作用下电介质瞬时短路。
电容过电压失效的防范
电容器在过压状态下容易被击穿，而实际应用中的瞬时高电压是经常出现的。
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电阻器失效模式与机理
失效机理：是导致失效的物理、化学、热力学或其他过程。
1、电阻器的主要失效模式与失效机理为
1) 开路：主要失效机理为电阻膜烧毁或大面积脱落，基体断裂，引线帽与电阻体脱落。
2) 阻值漂移超规范：电阻膜有缺陷或退化，基体有可动钠离子，保护涂层不良。
3) 引线断裂：电阻体焊接工艺缺陷，焊点污染，引线机械应力损伤。
4) 短路：银的迁移，电晕放电。
电感失效分析
电感器失效模式：电感量和其他性能的超差、开路、短路
模压绕线片式电感失效机理：
1.磁芯在加工过程中产生的机械应力较大，未得到释放
2.磁芯内有杂质或空洞磁芯材料本身不均匀，影响磁芯的磁场状况，使磁芯的磁导率发生了偏差；
3.由于烧结后产生的烧结裂纹；
4.铜线与铜带浸焊连接时，线圈部分溅到锡液，融化了漆包线的绝缘层，造成短路；
5.铜线纤细，在与铜带连接时，造成假焊，开路失效。
以上的这几种就是常见电容器的失效原理，如果您有技术上的问题可联系我们，东莞市智旭电子专业制造安规电容，陶瓷电容，压敏电阻，薄膜电容，更多优质的电容尽在JEC。智旭专业制造加工，用心为您，电容器的安全由我们守护，美好家园我们营造。以上资讯来自东莞市智旭电子有限公司研发部提供，更多资讯请大家移步至网站中智旭资讯中获取。